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Nombre total de revues: 17
 

Titre(s) correspondant à la recherche

Comptes Rendus Physique [1631-0705]
Accéder au texte intégral sur DOAJ Directory of Open Access Journals
Disponible à partir de 2020
Accéder au texte intégral sur Elsevier ScienceDirect Journals
Disponible à partir de 2002 volume: 3 numéro: 1  Jusqu’à (inclus) 2019/12/31 volume: 20 numéro: 8
Accéder au texte intégral sur Mirabel_Libre accès
Disponible à partir de 2002 volume: 3 numéro: 1  Jusqu’à (inclus) 2019 volume: 20 numéro: 7
Accéder au texte intégral sur Mirabel_Libre accès
Disponible à partir de 2020 volume: 21 numéro: 1
Accéder au texte intégral sur ROAD: Directory of Open Access Scholarly Resources
Disponible à partir de 2002
Chimie: Chimie physique
Ingénierie: Instrumentation
Ingénierie: Métrologie
Ingénierie: Satellites, sondes spatiales et technologie
Physique: Général et autres
Sciences de la vie: Biophysique
  Info SFX
 
Journal of Instrumentation [1748-0221]
Accéder au texte intégral sur Institute of Physics IOPscience extra
Disponible à partir de 2006/04/01 volume: 1 numéro: 4
Ingénierie: Génie civil
Ingénierie: Instrumentation
Ingénierie: Métrologie
  Info SFX
 
Journal of Phonetics [0095-4470]
Accéder au texte intégral sur Elsevier ScienceDirect Journals
Disponible à partir de 1973/01/01 volume: 1 numéro: 1
Accéder au texte intégral sur Elsevier_licence nationale
Disponible à partir de 1995/01/01 volume: 23 numéro: 1  Jusqu’à (inclus) 2001/01/31
Arts et sciences humaines: Langue et Linguistique
Ingénierie: Métrologie
Physique: Acoustique
Sciences de la santé: Pathologie
Sciences sociales: Sciences du comportement (psychologie) et conseil
  Info SFX
 
Journal of Physical and Chemical Reference Data [0047-2689]
Accéder au texte intégral sur AIP Journals (American Institute of Physics)
Disponible à partir de 1999 volume: 28 numéro: 1  Jusqu’à (inclus) 2022 volume: 51 numéro: 4
Chimie: Chimie analytique
Chimie: Général et autres
Ingénierie: Métrologie
Physique: Général et autres
  Info SFX
 
Journal of Quality Technology [0022-4065]
Accéder au texte intégral sur Taylor & Francis Science and Technology Library
Disponible à partir de 1997/01/01 volume: 29 numéro: 1
Ingénierie: Général et autres
Ingénierie: Génie industriel
Ingénierie: Métrologie
Sciences de l'environnement: Planification et études environnementales
Sciences mathématiques: Statistiques
Technologies de l'information: Modélisation et simulation
  Info SFX
 
Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology [1044-677X]
Accéder au texte intégral sur DOAJ Directory of Open Access Journals
Disponible à partir de 1948 volume: 41 numéro: 1
Accéder au texte intégral sur ROAD: Directory of Open Access Scholarly Resources
Disponible à partir de 1988  Jusqu’à (inclus) 2021
Accéder au texte intégral sur PubMed Central
Disponible à partir de 1989 volume: 94  Jusqu’à (inclus) 2021 volume: 126
Ingénierie: Général et autres
Ingénierie: Instrumentation
Ingénierie: Métrologie
Physique: Général et autres
Sciences mathématiques: Mathématiques appliquées
Sciences mathématiques: Statistiques
Technologies de l'information: Général et autres
  Info SFX
 
Journal of scientific instruments (1923-1967) [0950-7671]
Accéder au texte intégral sur Institute of Physics IOPscience extra
Disponible à partir de 1923 volume: 1 numéro: 1  Jusqu’à (inclus) 1967 volume: 44 numéro: 12
Chimie: Chimie analytique
Chimie: Général et autres
Ingénierie: Instrumentation
Ingénierie: Métrologie
Physique: Général et autres
  Info SFX
 
Journal of Thermal Analysis [0368-4466]
Accéder au texte intégral sur SpringerLink Online Journals Archive Complete
Disponible à partir de 1969 volume: 1
Chimie: Chimie analytique
Chimie: Général et autres
Ingénierie: Instrumentation
Ingénierie: Métrologie
Physique: Thermodynamique et transfert de chaleur
  Info SFX
 
Liquid crystals today [1358-314X]
Accéder au texte intégral sur Taylor & Francis Journals Complete
Disponible à partir de 1997 volume: 7 numéro: 1
Accéder au texte intégral sur Taylor & Francis Open Access
Disponible à partir de 2017/01/01 volume: 26 numéro: 1
Chimie: Cristallographie
Chimie: Général et autres
Chimie: Génie chimique
Ingénierie: Génie chimique
Ingénierie: Métrologie
Physique: Astrophysique
  Info SFX
 
Mechanics of composite materials and structures [1075-9417]
Accéder au texte intégral sur Taylor & Francis Science and Technology Library
Disponible à partir de 1997/01/01 volume: 4 numéro: 1  Jusqu’à (inclus) 2001/10/31 volume: 8 numéro: 4
Ingénierie: Architecture
Ingénierie: Génie civil
Ingénierie: Génie mécanique
Ingénierie: Métrologie
Physique: Mécanique
Science des matériaux et métallurgie: Composés
  Info SFX
 
Metrologia [0026-1394]
Accéder au texte intégral sur Institute of Physics IOPscience extra
Disponible à partir de 1965 volume: 1 numéro: 1
Ingénierie: Électronique
Ingénierie: Général et autres
Ingénierie: Métrologie
Physique: Général et autres
Physique: Optique et opto-électronique
  Info SFX
 
Physiological Measurement [0967-3334]
Accéder au texte intégral sur Institute of Physics IOPscience extra
Disponible à partir de 1993 volume: 14 numéro: 1
Ingénierie: Génie biomédical
Ingénierie: Instrumentation
Ingénierie: Métrologie
Sciences de la santé: Général et autres
Sciences de la santé: Médecine clinique
Sciences de la santé: Physiologie
Sciences de la vie: Biologie
  Info SFX
 
Quality [0360-9936]
Accéder au texte intégral sur EBSCOhost Business Source Premier
Disponible à partir de 1999/08/01
Affaires, économie et administration: Gestion de la qualité
Affaires, économie et administration: Gestion des affaires
Ingénierie: Métrologie
  Info SFX
 
Sensors and Actuators A-Physical [0924-4247]
Accéder au texte intégral sur Elsevier ScienceDirect Journals
Disponible à partir de 1990/02/01 volume: 21 numéro: 1
Accéder au texte intégral sur Elsevier_licence nationale
Disponible à partir de 1990/01/01 volume: 22 numéro: 1  Jusqu’à (inclus) 2001/01/31
Ingénierie: Électronique
Ingénierie: Génie électrique
Ingénierie: Génie mécanique
Ingénierie: Instrumentation
Ingénierie: Métrologie
Physique: Général et autres
  Info SFX
 
Solar Energy [0038-092X]
Accéder au texte intégral sur Elsevier ScienceDirect Journals
Disponible à partir de 1957/01/01 volume: 1 numéro: 1
Accéder au texte intégral sur Elsevier_licence nationale
Disponible à partir de 1958/01/01 volume: 1 numéro: 1  Jusqu’à (inclus) 2001/01/31
Ingénierie: Génie énergétique
Ingénierie: Génie mécanique
Ingénierie: Instrumentation
Ingénierie: Métrologie
Physique: Astrophysique
Physique: Énergie
Sciences de l'environnement: Conservation de l'énergie et sources d'énergie alternatives
  Info SFX
 
Solid-State Electronics [0038-1101]
Accéder au texte intégral sur Elsevier ScienceDirect Journals
Disponible à partir de 1960/03/01 volume: 1 numéro: 1
Accéder au texte intégral sur Elsevier_licence nationale
Disponible à partir de 1960/01/01 volume: 1 numéro: 1  Jusqu’à (inclus) 2001/01/31
Ingénierie: Électronique
Ingénierie: Génie électrique
Ingénierie: Métrologie
Physique: Optique et opto-électronique
Physique: Physique du solide
Science des matériaux et métallurgie: Nanomatériaux
  Info SFX
 
Zeitschrift für Physik C Particles and Fields [0170-9739]
Accéder au texte intégral sur Springer Journals – Licence Nationale France
Disponible à partir de 1979  Jusqu’à (inclus) 1996
Accéder au texte intégral sur SpringerLink Online Journals Archive Complete
Disponible à partir de 1979/03/01 volume: 1 numéro: 1  Jusqu’à (inclus) 1997/12/31 volume: 73 numéro: 4
Ingénierie: Instrumentation
Ingénierie: Métrologie
Physique: Général et autres
Physique: Physique des particules
Physique: Physique du solide
  Info SFX
 
 

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SFX par Ex Libris

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